แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก

Nonconforming control charts for zero-inflated processes

Name: วิลาสินี ปีระจิตร

keyword: แผนภูมิควบคุม

ThaSH: การแจกแจงปัวซองส์

Abstract: ในการควบคุมคุณภาพ วัตถุประสงค์ของการสุ่มตัวอย่างผลิตภัณฑ์จากกระบวนการแต่ละครั้ง เพื่อตรวจสอบว่าผลิตภัณฑ์นั้นมีคุณภาพดีหรือไม่ งานวิจัยนี้ ทำการศึกษาประสิทธิภาพของแผนภูมิ ควบคุมรอยตำหนิ โดยความน่าจะเป็นของจำนวนการเกิดรอยตำหนิบนผลิตภัณฑ์มีการแจกแจง แบบปัวส์ซองที่มีศูนย์มาก (Zero-Inflated Poisson: ZIP) ซึ่งมีลักษณะคล้ายกับการแจกแจง แบบปัวส์ซอง (Poisson distribution) แต่จำนวนรอยตำหนิที่เกิดขึ้นเป็นศูนย์มาก โดยทำการศึกษา แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิวิธี ZIP (cZIP-Chart) แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิวิธี Jeffreys prior interval (cJ -Chart) และนำไปเปรียบเทียบกับแผนภูมิควบคุมรอยตำหนิของชิวฮาร์ต (c-Chart) เมื่อ กระบวนการผลิตมีสัดส่วนของจำนวนรอยตำหนิที่เป็นศูนย์ (ω ) เท่ากับ 0.3, 0.4, 0.5 และ 0.6 ทำการศึกษาทั้งกรณีที่กระบวนการผลิตมีค่าเฉลี่ยของจำนวนรอยตำหนิไม่เปลี่ยนแปลงและ เปลี่ยนแปลงไป เกณฑ์ที่ใช้ในการประเมินประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมคือ ค่าความยาววิ่งเฉลี่ย (Average Run Length: ARL) และค่าความน่าจะเป็นครอบคลุมเฉลี่ย (The Average of Coverage Probability: ACP) ผลการวิจัยพบว่า ในกรณีที่ค่าเฉลี่ยของจำนวนรอยตำหนิในกระบวนการผลิตไม่ เปลี่ยนแปลงนั้น cJ-Chart เป็นแผนภูมิควบคุมที่มีประสิทธิภาพดี โดยประสิทธิภาพขึ้นอยู่กับระดับ ค่า ω แต่กรณีที่ค่าเฉลี่ยของจำนวนรอยตำหนิในกระบวนการผลิตมีการเปลี่ยนแปลง พบว่า c-Chart สามารถตรวจจับการเปลี่ยนแปลงได้ดีที่สุด แต่ให้ค่าความน่าจะเป็นครอบคลุมเฉลี่ยด้อย กว่าแผนภูมิอื่นมาก

Abstract: In quality control, the aim of periodical sampling of products from processes is to verify that the products are of high quality. In this paper, we study the performances of control charts when the probability of observing a defective product follows a Zero-Inflated Poisson (ZIP) distribution, i.e., a distribution that is similar to a Poisson distribution but with an excess number of zeros. We compare the performances of a c-Chart with Jeffreys prior interval (cJ -Chart), a c-Chart with ZIP model (cZIP-Chart) and a Shewhart c-Chart (c-Chart) for processes with varying proportions of observed excess zeros, namely,ω = 0.3, 0.4, 0.5 and 0.6. We looked at processes in which there was no mean shift in amount of defectives and in which there was a mean shift, and for each case we evaluated the efficiencies of the control charts using the average run length (ARL) and the average of coverage probability (ACP). The results showed that when there was no mean shift, then the cJ – Chart gave good efficiency, with efficiency depending onω . When there was a shift, then the c- Chart was the most effective for detecting the shift, but the ACP of the c-Chart was found to be the least effective in estimating process parameters.

มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ. สำนักหอสมุดกลาง

Address: กรุงเทพมหานคร

Email: library@kmutnb.ac.th

Name: ธิดาเดียว มยุรีสวรรค์

Role: ที่ปรึกษาวิทยานิพนธ์

Email : tms@kmutnb.ac.th

Created: 2552

Modified: 2567-08-27

Issued: 2553-07-15

วิทยานิพนธ์/Thesis

application/pdf

CallNumber: E-THESIS

tha

DegreeName: วิทยาศาสตร์มหาบัณฑิต

Level: ปริญญาโท

Descipline: สถิติประยุกต์

Grantor: มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

©copyrights มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

ลำดับที่.	ชื่อแฟ้มข้อมูล	ขนาดแฟ้มข้อมูล	จำนวนเข้าถึง	วัน-เวลาเข้าถึงล่าสุด
1	B15178316.pdf	6.26 MB

ใช้เวลา

0.043441 วินาที