แจ้งเอกสารไม่ครบถ้วน, ไม่ตรงกับชื่อเรื่อง หรือมีข้อผิดพลาดเกี่ยวกับเอกสาร ติดต่อที่นี่ ==>
หากไม่มีอีเมลผู้รับให้กรอก thailis-noc@uni.net.th
หากไม่มีอีเมลผู้รับให้กรอก thailis-noc@uni.net.th
ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ, 2528-. การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้าในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์. ปริญญาโท(การพัฒนางานอุตสาหกรรม). มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์. สำนักหอสมุด. : มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์, 2554.
การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้าในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์
Study reduction of over reject defects in the manufacturing of chip tantalum capacitor
keyword:
คณะวิศวกรรมศาสตร์
Othors:
คาปาซิเตอร์
Classification :.LCCS: TK7872
Othors:
การควบคุมกระบวนการผลิต
มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์. สำนักหอสมุด
Address:
กรุงเทพมหานคร
Email:
preserv@tu.ac.th
Name: มณฑลี ศาสนนันทน์
Role:
อาจารย์ที่ปรึกษาการศึกษาค้นคว้าด้วยตนเอง
Created:
2554
Modified:
2555-05-19
Issued:
2555-05-19
วิทยานิพนธ์/Thesis
application/pdf
CallNumber:
TK7872.ค63 ศ623 2554
tha
DegreeName: วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต
Level: ปริญญาโท
Descipline: การพัฒนางานอุตสาหกรรม
Grantor: มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์
©copyrights มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์
RightsAccess:
ใช้เวลา
0.039197 วินาที
ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ, 2528-
| Title | Contributor | Type |
|---|---|---|
| การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้าในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์
มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์ ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ, 2528- | มณฑลี ศาสนนันทน์ | วิทยานิพนธ์/Thesis |
มณฑลี ศาสนนันทน์