แจ้งเอกสารไม่ครบถ้วน, ไม่ตรงกับชื่อเรื่อง หรือมีข้อผิดพลาดเกี่ยวกับเอกสาร ติดต่อที่นี่ ==>
หากไม่มีอีเมลผู้รับให้กรอก thailis-noc@uni.net.th
หากไม่มีอีเมลผู้รับให้กรอก thailis-noc@uni.net.th
Jiraroj T-Thienprasert. Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies: first principles calculations. Doctoral Degree(Physics). Suranaree University of Technology The Center for Library Resources and Educational Media . : Suranaree University of Technology, 2008.
Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies: first principles calculations
การระบุโครงสร้างของความบกพร่องจากสเปกตรัมการดูดกลืนแสงย่านใต้แดงและรังสีเอ็กซ์: การคำนวนแบบเฟิสต์พรินซิเพิล
Name: Jiraroj T-Thienprasert
keyword:
Infrared spectroscopy
ThaSH:
Physics
Suranaree University of Technology The Center for Library Resources and Educational Media
Address:
Nakhon Ratchasima
Created:
2008
Modified:
2010-12-29
Issued:
2010-12-13
วิทยานิพนธ์/Thesis
application/pdf
eng
DegreeName: Doctor of Philosophy
Level: Doctoral Degree
Descipline: Physics
Grantor: Suranaree University of Technology
©copyrights Suranaree University of Technology
RightsAccess:
ใช้เวลา
0.03946 วินาที
Jiraroj T-Thienprasert
| Title | Contributor | Type |
|---|---|---|
| Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies: first principles calculations
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี Jiraroj T-Thienprasert | วิทยานิพนธ์/Thesis |